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HE-X光纤红外测温仪 时资

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  • 声明:以下内容未经核实,风险自负!

时资H HE-X光纤红外测温仪

仪器特点

◆ 测量范围:400--3000℃(分段)

  ◆ 光纤传输

◆ 线性的电流信号 ◆ 同轴激光瞄准。

◆ 可选配二次仪表

  ◆最小可测2mm

◆探头无需冷却耐高温可达180℃

◆增强的抗电磁干扰能力

应用范围

窑炉,锻造,铸造,冶炼,中高频加热炉,设备配套等热处理行业。

技术参数


型号  
测量范围 400—1200℃ 500—1400℃ 650—1650℃ 800—1800℃ 800—2500℃ 1600—3000℃
测量精度 ±0.5%
重复精度 ±0.5%
距离系数 75:1
显示分辨率 1℃
最小测量范围 φ2mm
发射率 可调
响应时间 <10ms
瞄准方式 同轴激光瞄准
功能 可扩展上下限报警,RS232或RS485输出,无纸记录数据,可与PC联机,配套软件实时显示及记录。
测量距离 0 光纤长度 标准1.5m,非标准1~10m
工作波段 1.6um
输出方式 0~5VDC;4~20mA
最大负载 250Ω
环境等级 Ip65
环境温度 光纤探头<180℃;信号处理单元0~50℃
相对湿度 10~95%,不结露
电源 24VDC,100mA
配件 支架,连接电缆线

时资H HE-X光纤红外测温仪

仪器特点

◆ 测量范围:400--3000℃(分段)

  ◆ 光纤传输

◆ 线性的电流信号 ◆ 同轴激光瞄准。

◆ 可选配二次仪表

  ◆最小可测2mm

◆探头无需冷却耐高温可达180℃

◆增强的抗电磁干扰能力

应用范围

窑炉,锻造,铸造,冶炼,中高频加热炉,设备配套等热处理行业。

技术参数


型号  
测量范围 400—1200℃ 500—1400℃ 650—1650℃ 800—1800℃ 800—2500℃ 1600—3000℃
测量精度 ±0.5%
重复精度 ±0.5%
距离系数 75:1
显示分辨率 1℃
最小测量范围 φ2mm
发射率 可调
响应时间 <10ms
瞄准方式 同轴激光瞄准
功能 可扩展上下限报警,RS232或RS485输出,无纸记录数据,可与PC联机,配套软件实时显示及记录。
测量距离 0 光纤长度 标准1.5m,非标准1~10m
工作波段 1.6um
输出方式 0~5VDC;4~20mA
最大负载 250Ω
环境等级 Ip65
环境温度 光纤探头<180℃;信号处理单元0~50℃
相对湿度 10~95%,不结露
电源 24VDC,100mA
配件 支架,连接电缆线


时资H HE-X光纤红外测温仪

仪器特点

◆ 测量范围:400--3000℃(分段)

  ◆ 光纤传输

◆ 线性的电流信号 ◆ 同轴激光瞄准。

◆ 可选配二次仪表

  ◆最小可测2mm

◆探头无需冷却耐高温可达180℃

◆增强的抗电磁干扰能力

应用范围

窑炉,锻造,铸造,冶炼,中高频加热炉,设备配套等热处理行业。

技术参数


型号  
测量范围 400—1200℃ 500—1400℃ 650—1650℃ 800—1800℃ 800—2500℃ 1600—3000℃
测量精度 ±0.5%
重复精度 ±0.5%
距离系数 75:1
显示分辨率 1℃
最小测量范围 φ2mm
发射率 可调
响应时间 <10ms
瞄准方式 同轴激光瞄准
功能 可扩展上下限报警,RS232或RS485输出,无纸记录数据,可与PC联机,配套软件实时显示及记录。
测量距离 0 光纤长度 标准1.5m,非标准1~10m
工作波段 1.6um
输出方式 0~5VDC;4~20mA
最大负载 250Ω
环境等级 Ip65
环境温度 光纤探头<180℃;信号处理单元0~50℃
相对湿度 10~95%,不结露
电源 24VDC,100mA
配件 支架,连接电缆线

时资H HE-X光纤红外测温仪

仪器特点

◆ 测量范围:400--3000℃(分段)

  ◆ 光纤传输

◆ 线性的电流信号 ◆ 同轴激光瞄准。

◆ 可选配二次仪表

  ◆最小可测2mm

◆探头无需冷却耐高温可达180℃

◆增强的抗电磁干扰能力

应用范围

窑炉,锻造,铸造,冶炼,中高频加热炉,设备配套等热处理行业。

技术参数


型号  
测量范围 400—1200℃ 500—1400℃ 650—1650℃ 800—1800℃ 800—2500℃ 1600—3000℃
测量精度 ±0.5%
重复精度 ±0.5%
距离系数 75:1
显示分辨率 1℃
最小测量范围 φ2mm
发射率 可调
响应时间 <10ms
瞄准方式 同轴激光瞄准
功能 可扩展上下限报警,RS232或RS485输出,无纸记录数据,可与PC联机,配套软件实时显示及记录。
测量距离 0 光纤长度 标准1.5m,非标准1~10m
工作波段 1.6um
输出方式 0~5VDC;4~20mA
最大负载 250Ω
环境等级 Ip65
环境温度 光纤探头<180℃;信号处理单元0~50℃
相对湿度 10~95%,不结露
电源 24VDC,100mA
配件 支架,连接电缆线

时资H HE-X光纤红外测温仪

仪器特点

◆ 测量范围:400--3000℃(分段)

  ◆ 光纤传输

◆ 线性的电流信号 ◆ 同轴激光瞄准。

◆ 可选配二次仪表

  ◆最小可测2mm

◆探头无需冷却耐高温可达180℃

◆增强的抗电磁干扰能力

应用范围

窑炉,锻造,铸造,冶炼,中高频加热炉,设备配套等热处理行业。

技术参数


型号  
测量范围 400—1200℃ 500—1400℃ 650—1650℃ 800—1800℃ 800—2500℃ 1600—3000℃
测量精度 ±0.5%
重复精度 ±0.5%
距离系数 75:1
显示分辨率 1℃
最小测量范围 φ2mm
发射率 可调
响应时间 <10ms
瞄准方式 同轴激光瞄准
功能 可扩展上下限报警,RS232或RS485输出,无纸记录数据,可与PC联机,配套软件实时显示及记录。
测量距离 0 光纤长度 标准1.5m,非标准1~10m
工作波段 1.6um
输出方式 0~5VDC;4~20mA
最大负载 250Ω
环境等级 Ip65
环境温度 光纤探头<180℃;信号处理单元0~50℃
相对湿度 10~95%,不结露
电源 24VDC,100mA
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